一般認(rèn)為XLPE電力電纜在正常環(huán)境中的壽命為20-30年，然而由于電纜敷設(shè)在電纜溝或直接埋于地下，敷設(shè)環(huán)境與使用狀態(tài)會(huì)極大的影響電纜的壽命。XLPE電纜長(zhǎng)期同土壤、水分、潮氣接觸，絕緣易受到腐蝕滲透，再加上電纜制造或安裝時(shí)的局部缺陷，在電、熱、機(jī)械外力、水、油、有機(jī)化合物、酸、堿、鹽及微生物作用下，常常發(fā)生老化，嚴(yán)重時(shí)可能造成故障，破壞電力系統(tǒng)的正常運(yùn)行。處于惡劣環(huán)境中運(yùn)行的電纜，絕緣破壞的例子屢見不鮮。根據(jù)有關(guān)部門統(tǒng)計(jì)，電纜事故占電氣設(shè)備事故總數(shù)的比例約為48%。

XLPE電纜產(chǎn)生故障的原因非常復(fù)雜，常常是多因素的，因此，分析XLPE電纜故障的原因?qū)τ诒苊怆姎馐鹿适欠浅Ｖ匾摹LPE電纜產(chǎn)生故障的原因大致可分為：

（1）絕緣的自然老化
這是故障產(chǎn)生的主要原因。XLPE電纜絕緣的自然老化又可以分為水樹老化、電樹老化、熱老化、化學(xué)老化等，很多時(shí)候是多種因素共同作用下的絕緣老化，其中水樹老化最為常見。大量的研究資料表明，XLPE電纜絕緣擊穿的首要原因是由于絕緣層中形成了水樹枝，其原因可能是制造過程中殘留在絕緣層中的微水，或運(yùn)行中因機(jī)械損傷水分逐漸侵入，或運(yùn)行中長(zhǎng)期受水浸漬等。在電場(chǎng)的長(zhǎng)期作用下，絕緣中將形成由微小的水滴及連接它們的水絲組成的水樹枝，它是交聯(lián)聚乙烯電纜事故的主要原因，約占事故的71%，多發(fā)生于自然劣化。水樹發(fā)展到一定程度又會(huì)引發(fā)電樹的產(chǎn)生，進(jìn)而導(dǎo)致絕緣更加嚴(yán)重的破壞，甚至被擊穿造成電氣事故。

（2）外力的破壞
這方面的損壞主要有施工和交通運(yùn)輸所造成的損壞，如挖土、打樁、搬運(yùn)等都可能誤傷電纜，行駛車輛的震動(dòng)也會(huì)造成埋在公路及鐵路附近的電纜。在敷設(shè)電纜過程中也會(huì)因?yàn)槔^大或彎曲過度而導(dǎo)致電纜絕緣和護(hù)層的損壞，另外也有因自然力如土壤下沉所形成的拉力導(dǎo)致電纜故障的發(fā)生。

（3）材料缺陷及設(shè)計(jì)制作工藝的影響
材料缺陷包括交聯(lián)聚乙烯絕緣中含有雜質(zhì)、導(dǎo)電線芯不夠光滑、附件中的鑄件有砂眼、瓷件的機(jī)械強(qiáng)度不夠、由于管理不嚴(yán)而造成電纜中間頭和終端頭絕緣材料受潮、臟污和老化。設(shè)計(jì)制作問題大多出在中間接頭和終端頭部分，例如選用材料不當(dāng)、電場(chǎng)分布考慮不合理、機(jī)械強(qiáng)度和裕度不夠等。

（4）過電壓
大氣過電壓和內(nèi)部過電壓是電纜所承受的電應(yīng)壓力超過允許值而造成擊穿。對(duì)實(shí)際故障進(jìn)行分析發(fā)現(xiàn)，許多戶外終端頭的故障是由大氣過電壓引起的，電纜本身的缺陷也會(huì)導(dǎo)致在大氣過電壓的時(shí)候發(fā)生故障。

在以上各種常見故障發(fā)生初期，由于電纜整體或絕緣結(jié)構(gòu)發(fā)生了變化，就會(huì)引起電纜內(nèi)部電荷分布的改變，進(jìn)而造成某些部位場(chǎng)強(qiáng)偏大。在這種電場(chǎng)的作用下，電纜絕緣系統(tǒng)中會(huì)有部分區(qū)域發(fā)生放電，但不會(huì)馬上造成擊穿事故，也就是在電纜內(nèi)部會(huì)發(fā)生局部放電。

電力電纜局部放電量與電力電纜絕緣狀況密切相關(guān)，很多研究表明，電樹枝的產(chǎn)生常伴隨局部放電的發(fā)生，局部放電可能是由電樹枝引發(fā)，同時(shí)又加速電樹的生長(zhǎng)與絕緣材料的劣化。局部放電量的變化預(yù)示著電纜絕緣一定存在著可能危及電纜安全運(yùn)行的缺陷。因?yàn)樵诰植糠烹娺^程中，電離出來的電子、正負(fù)離子在電場(chǎng)力的作用下具有較大的能量，當(dāng)它們撞到絕緣內(nèi)空氣隙的絕緣壁時(shí)，足以打斷絕緣材料高分子的化學(xué)鍵，產(chǎn)生裂解。其次，在放電點(diǎn)上，介質(zhì)發(fā)熱可達(dá)到很高的溫度，使得絕緣材料在放電點(diǎn)被燒焦或融化;溫度升高還會(huì)產(chǎn)生熱裂解或促使氧化裂解；同時(shí)溫度升高會(huì)增大介質(zhì)的電導(dǎo)和損耗，由此產(chǎn)生惡性循環(huán)，導(dǎo)致絕緣體破壞。在局部放電過程中還會(huì)產(chǎn)生許多活性生成物，這些生成物會(huì)腐蝕絕緣體，使得介質(zhì)性能劣化。局部放電還有可能產(chǎn)生X射線或Υ射線，這兩種射線具有較高的能量，能夠促使高分子裂解。除此之外，連續(xù)爆破性的放電以及放電產(chǎn)生的高壓氣體都會(huì)使絕緣體產(chǎn)生微裂，從而發(fā)展成電樹枝。在運(yùn)行電壓下，局放能存在于電樹枝、孔隙、裂紋、雜質(zhì)以及剝離的界面上，當(dāng)絕緣中存在微孔或絕緣層與內(nèi)、外半導(dǎo)電層間有空隙時(shí)，將由于局部放電侵蝕絕緣而使絕緣性降低，以至發(fā)生老化形態(tài)，最終表現(xiàn)為絕緣擊穿。