GIS內部可能出現的缺陷類型
①金屬突出物
金屬突出物通常有兩種存在形式：一種是高壓導體上的金屬突起毛刺，另一種是GIS罐體內壁上的金屬突起毛刺。兩種形式的放電基本類似，但發生放電的相位正好相反，高壓導體上的金屬突出物通常在工頻負半周首先放電，而罐體內壁的放電則首先出現在工頻正半周。②自由導電微粒
自由導電微粒通常是大小不一的金屬顆粒，它們能夠在外電場作用下感應電荷以獲得足夠的能量，并在電場力的作用下發生跳動或位移現象。如果電場足夠強，自由導電微粒獲得的能量足夠大，在電場持續作用下，微粒完全有可能越過外殼和高壓導體之間的間隙或移動到有損絕緣的地方。導電微粒運動的程度既取決于形狀和材料，又取決外電場強度和作用時間等因素。當導電微粒接近而未接觸到高壓導體時，最容易表現的電氣特征是產生PD。同時，導電微粒在遷移過程中和附著在絕緣子表面時也會產生PD，但不同的運動形式所產生的PD的n一q一φ譜圖各異。③絕緣子表面污染
絕緣子表面吸附的金屬微粒，通常會移動到低電場區而不發生PD，但在某些情況下也會長期地固定在絕緣子表面，成為固定金屬微粒。它粘貼在絕緣表面的作用類似于金屬突出物。然而，絕緣子表面固定金屬微粒有以下幾個主要不同特征：絕緣子上的有些微粒起初可能并不危險，但由于機械振動或操作過電壓引起的靜電力，會造成其輕微運動并最終朝著危險的方向發展；1）絕緣子表面的微粒會形成表面電荷集聚，從而在某種程度上加大了故障的可能性；
2）微粒的放電會導致絕緣子表面損傷，在工頻作用下產生表面樹痕，最終導致絕緣故障。
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