局部放電的電氣檢測法是在定的電壓條件下，當設備的絕緣結構被腐蝕時，測試由試品局部放電所引起的高頻電流脈沖信號。因為這類干擾信號會經常出現不固定的相位，和局部放電信號的波形也非常相似，所以是最難以去除的一類干擾信號。此類干擾的特點是：在時域上表現為脈沖信號，且持續時間非常短暫；而在頻域上表現為寬帶信號，含多鐘頻率成分。

1. 可控硅元件動作引起的干擾
引起此類干擾的原因是：在供電設備中，存在可控硅元件在工作。可控硅干擾擾是一種最強的干擾源，其干擾的大小和所用可控硅的功率息息相關。此類干擾波形的特點是：在橢圓基線上，每個元件都會產生一個與之相應的高頻電流脈沖信號，信號的位置是固定的，且所占的比重比較大、因為當電路被接通時，信號的波形會變寬，幅值會增大，電磁耦合效應將會增強。

2. 異步電機引起的干擾
引起此類干擾的原因是：在檢測回路中有耦合的異步電機在運行。此類干擾波形的特點是：在橢圓正、負半周上對稱的出現兩組信號，且沿橢圓基線逆掃描方向移動。

3. 熒光燈引起的干擾
此類干擾波形的特點是：在橢圓墓線的正、負半周上，對稱分布出現欄柵狀的二簇脈沖組，且信號的幅值大小基本相等。如圖所示：(1)為單個可控硅元件動作產生的干擾；(2)為6極水銀整流器產生的干擾，它和可控硅動作產生的干擾波形作常相似；(3)為旋轉電機產生的干擾；(4)為熒光燈工作引起的干擾。