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GIS的絕緣缺陷

發(fā)布時間：2021-08-17 00:51:28人氣：

下表為投運的GIS的故障統(tǒng)計情況，其中日本的情況是CIGRE 23.10工作組國際調(diào)查報告的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。由表中統(tǒng)計結(jié)果可見，絕緣故障是GIS事故的主要原因，而且絕緣故障多數(shù)發(fā)生在較高電壓的設(shè)備中，絕緣擊穿的后果比較嚴重，因而受到國內(nèi)外的廣泛關(guān)注。

GIS的故障統(tǒng)計情況與絕緣故障率

GIS內(nèi)部不同缺陷類型引發(fā)的故障率

引發(fā)GIS故障的缺陷類型分布如圖所示。可見故障當中自由微粒及異物故障、接觸不良發(fā)生的故障、由于潮濕引起的故障以及絕緣子上發(fā)生的故障占多數(shù)。通常情況下，GIS中絕緣故障的發(fā)生發(fā)展過程都是從局部放電開始的，而局部放電則是由于局部電場畸變引起的。GIS中有可能引起電場畸變的主要絕緣缺陷包括：自由金屬微粒、金屬突出物、絕緣子氣隙、絕緣子表面金屬污染物、懸浮電極等，其示意圖如下圖所示。因此，局部放電檢測是GIS絕緣狀態(tài)監(jiān)測與評估的有效手段。